기하 회절 물리광학을 기반 기술 로 하며 렌즈, 비선형크리스탈, 광 섬유 이득매질, 레이저 다이오드 등을 국산화하여 공급하고 있습니 다. 빠른견적 및 배송 요청시 로그 인후 해당 물품을 선택시 견적요 청이 됩니다. 개발, 기술지원 요청시 전화 또는 email로 문의 주시기 바랍니다.
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Co2 laser atomic force microscopy - AFM & s-SNOM
CO 2 lasers and other mid-infrared light sources are proven tools for material inspection via spectroscopic techniques, recently atomic force microscopy (AFM) and scattering scanning nearfield optical microscopy (s-SNOM) have gained traction due to their complimentary setups.These techniques can provide insight to a material’s chemical composition and optical properties while providing imaging with a spatial resolution on the scale of nanometers.
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